EDX-LE能量色散X射線分析是X射線能譜分析的一種儀器。在電子與物質相互作用時，采用能聚焦的入射電子可以激發(fā)初級X射線，不同元素發(fā)射出來的特征X射線波長不同，能量也不同。利用X射線能量不同而展譜一般稱為X射線能譜分析或能量色散X射線分析，所用設備通常稱為能量色散譜儀。

 

　　EDX-LE能量色散X射線分析的主要單元是半導體探測器及多道脈沖高度分析器，用以將特征X射線按能量展i｝｝Er7，5的分辨率遠不如波長色散譜儀，它有分析速度快的優(yōu)點，和通用的X射線波長色散譜儀相比可提高10倍，如果進行物相鑒定，只需幾分鐘就可以得到被測物質的全部衍射花樣。

 

　　根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。通過測定熒光X射線的能量實現(xiàn)對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現(xiàn)對被測樣品分析的方式稱之為波長色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。

 

　　就能量色散型儀器而言，根據選用探測器的不同，X射線熒光分析儀可分為半導體探測器和正比計數管兩種主要類型。根據分析能力的大小還可分為多元素分析儀器和個別元素分析儀器。這種稱呼多用于能量色散型儀器。

 

　　X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環(huán)境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。也是X射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面常選儀器之一。同時，成為地質、冶金、建材、石油化工、半導體工業(yè)和醫(yī)藥衛(wèi)生等領域的重要分析手段。